行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格地講，不僅僅國(guó)內(nèi)沒(méi)有沒(méi)有專門命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn),國(guó)外目前也沒(méi)有專門命名為半導(dǎo)體照明的標(biāo)準(zhǔn)，只有有關(guān)普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和與普通光源有關(guān)的照明方面的標(biāo)準(zhǔn)。

普通LED的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有：

 
（1）IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)

IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

（2）IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)

IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

（3）IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)  

IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路
零部件5-3：光電子器件—測(cè)試方法(1997-08)

（4）IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3:optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)

 
IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件
—顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)（1998-02）

（5）CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測(cè)試方法（1997）

國(guó)際照明委員會(huì)（CIE）1997年發(fā)表CIE127-1997 LED測(cè)試方法，把LED 強(qiáng)度測(cè)試確定為平均強(qiáng)度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測(cè)試結(jié)構(gòu)和探測(cè)器大小，這樣就為L(zhǎng)ED 準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127－1997 測(cè)試方法并非國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測(cè)試比對(duì)，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的LED技術(shù)特性CIE127-1997 LED測(cè)試方法沒(méi)有涉及。

 
目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達(dá)國(guó)家非常重視LED測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)研究所（NIST）正在開(kāi)展LED測(cè)試方法的研究，準(zhǔn)備建立整套的LED測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，許多國(guó)外大公司的研究和開(kāi)發(fā)人員正在積極參與國(guó)家和國(guó)際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
如2002年10月28日，美國(guó)Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn)，以推動(dòng)市場(chǎng)應(yīng)用。