L型韓國XRF-2020鍍層測(cè)厚儀：
L型：測(cè)量樣品長寬55cm,高3cm
H型：測(cè)量樣品長寬55cm,高10cm
韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測(cè)厚儀
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)地：韓國
品牌：Micro Pioneer
系列型號(hào)：
XRF-2020H
XRF-2020L
XRF-2020PCB
XRF-2020鍍層測(cè)厚儀三款型號(hào)
不同型號(hào)各種功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2000測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2020H型鍍層測(cè)厚儀:測(cè)量樣品高度不超過12cm
XRF-2020L型電鍍測(cè)厚儀:測(cè)量樣品高度不超過3cm
XRF-2020PCB型電鍍膜厚儀:測(cè)量樣品高度不超3cm
韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測(cè)厚儀
檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
測(cè)量范圍:0.03-35um
測(cè)量精度:±5%,測(cè)量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)對(duì)焦，操作非常方便簡(jiǎn)單
測(cè)量時(shí)間：10－30秒
精度控制：
第一層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)
韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測(cè)厚儀